薄膜測厚儀的技術特點介紹
更新(xīn)時(shí)間(jiān)：2021-05-12 點擊次數：912
薄膜測厚儀，又稱為(wèi)測厚儀、薄膜厚度檢測儀、薄膜厚度儀等，薄膜測厚儀專業适用于量程範圍内的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、矽片等各種材料的厚度精确測量。
薄膜測厚儀的技術特點介紹
嚴格按照标準設計的接觸面積和測量壓力，同時(shí)支持各種非标定制
測試過程中測量頭自動升降，有效避免了(le)人(rén)為(wèi)因素造成的系統誤差
支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇
實時(shí)顯示測量結果的*大值、*小值、平均值以及标準偏差等分(fēn)析數據，方便用戶進行判斷
配置标準量塊用于系統标定，保證測試的精度和數據一(yī)緻性
系統支持數據實時(shí)顯示、自動統計、打印等許多實用功能(néng)，方便快(kuài)捷地獲取測試結果
系統由微電腦控制，搭配液晶顯示器(qì)、菜單式界面和PVC操作(zuò)面闆，方便用戶進行試驗操作(zuò)和數據查看
支持Lystem™實驗室數據共享系統，統一(yī)管理(lǐ)試驗結果和試驗報(bào)告
标準的RS232接口，便于系統的外部連接和數據傳輸
當前位置：
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