薄膜測厚儀的技術特征介紹
更新(xīn)時(shí)間(jiān):2021-07-26 點擊次數:904
薄膜測厚儀的技術特征介紹
薄膜測厚儀,又稱為(wèi)測厚儀、薄膜厚度檢測儀、薄膜厚度儀等,薄膜測厚儀适用于量程範圍内的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、矽片等各種材料的厚度準确測量。采用機械接觸式測量方式,嚴格符合标準要求,有效保證了(le)測試的規範性和準确性。适用于量程範圍内的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、矽片等各種材料的厚度準确測量。
技術特征
1、嚴格按照标準設計的接觸面積和測量壓力,同時(shí)支持各種非标定制
2、測試過程中測量頭自動升降,有效避免了(le)人(rén)為(wèi)因素造成的系統誤差
3、支持自動和手動兩種測量模式,方便用戶自由選擇
4、實時(shí)顯示測量結果的最大值、最小值、平均值以及标準偏差等分(fēn)析數據,方便用戶進行判斷
5、配置标準量塊用于系統标定,保證測試的精度和數據一(yī)緻性
6、系統支持數據實時(shí)顯示、自動統計、打印等許多實用功能(néng),方便快(kuài)捷地獲取測試結果
7、系統由微電腦控制,搭配液晶顯示器(qì)、菜單式界面和PVC操作(zuò)面闆,方便用戶進行試驗操作(zuò)和數據查看
8、支持Lystem?實驗室數據共享系統,統一(yī)管理(lǐ)試驗結果和試驗報(bào)告
9、标準的RS232接口,便于系統的外部連接和數據傳輸