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  • 薄膜測厚儀
    薄膜測厚儀

    更新(xīn)時(shí)間(jiān)：2021-07-08

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    薄膜測厚儀采用光譜幹涉原理(lǐ)進行測量，具有非接觸、無破壞、快(kuài)速等特點，可在真空環境使用；可與大行程工件台配合，實現(xiàn)大面積膜厚自動測量。
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