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薄膜測厚儀

簡要描述：薄膜測厚儀采用光譜幹涉原理(lǐ)進行測量，具有非接觸、無破壞、快(kuài)速等特點，可在真空環境使用；可與大行程工件台配合，實現(xiàn)大面積膜厚自動測量。

  • 産品型号：
  • 廠商(shāng)性質：生(shēng)産廠家
  • 更新(xīn)時(shí)間(jiān)：2021-07-08
  • 訪  問  量：1464
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詳細介紹

品牌其他品牌價格區間(jiān)面議(yì)
産地類别進口應用領域醫(yī)療衛生(shēng),環保,化(huà)工,電子(zǐ)
産品名稱：薄膜測厚儀
主要技術指标：
   測量範圍（VIS）：15nm—100μm
   測量重複性（RMS）：0.086nm
   測量精度（與橢偏儀對比）：0.25nm
   測量層數：大于3層
   使用光源：鹵素燈；
入射角度：90°
   測試材料：透明或半透明薄膜材料；
   光斑尺寸：20μm—3mm（可選）
   測量時(shí)間(jiān)：100ms—4ms；
   通信接口：USB2.0
産品特點：
采用光譜幹涉原理(lǐ)進行測量，具有非接觸、無破壞、快(kuài)速等特點；
可在真空環境使用；可與大行程工件台配合，實現(xiàn)大面積膜厚自動測量。

薄膜測厚儀測試數據：

薄膜測厚儀設備組成：
測試主機、光纖、校(xiào)正件、測量頭、夾持裝置、設備箱、手提電腦。

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