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薄膜測厚儀

簡要描述:薄膜測厚儀采用光譜幹涉原理(lǐ)進行測量,具有非接觸、無破壞、快(kuài)速等特點,可在真空環境使用;可與大行程工件台配合,實現(xiàn)大面積膜厚自動測量。

  • 産品型号:
  • 廠商(shāng)性質:生(shēng)産廠家
  • 更新(xīn)時(shí)間(jiān):2021-07-08
  • 訪  問  量:1464

詳細介紹

品牌其他品牌價格區間(jiān)面議(yì)
産地類别進口應用領域醫(yī)療衛生(shēng),環保,化(huà)工,電子(zǐ)
産品名稱:薄膜測厚儀
主要技術指标:
   測量範圍(VIS):15nm—100μm
   測量重複性(RMS):0.086nm
   測量精度(與橢偏儀對比):0.25nm
   測量層數:大于3層
   使用光源:鹵素燈;
入射角度:90°
   測試材料:透明或半透明薄膜材料;
   光斑尺寸:20μm—3mm(可選)
   測量時(shí)間(jiān):100ms—4ms;
   通信接口:USB2.0
産品特點:
采用光譜幹涉原理(lǐ)進行測量,具有非接觸、無破壞、快(kuài)速等特點;
可在真空環境使用;可與大行程工件台配合,實現(xiàn)大面積膜厚自動測量。

薄膜測厚儀測試數據

薄膜測厚儀設備組成:
測試主機、光纖、校(xiào)正件、測量頭、夾持裝置、設備箱、手提電腦。

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