不了(le)解基礎參數，怎麽能(néng)用好(hǎo)(hǎo)薄膜測厚儀？
更新(xīn)時(shí)間(jiān)：2022-07-18 點擊次數：553
随着科技的發展，近年來(lái)，薄膜的市(shì)場(chǎng)需求不斷增加。薄膜的厚度是産品的重要物理(lǐ)指标之一(yī)，它直接影響産品的産量、質量、經濟效益和生(shēng)産成本。薄膜厚度測量也(yě)是薄膜制造業的基本檢測項目之一(yī)。
薄膜測厚儀采用顯微光譜法測量小範圍内的反射率，可進行高精度的膜厚/光學常數分(fēn)析。
塗膜的厚度可以采用無損、非接觸的方式進行測量，如(rú)各種薄膜、晶片、光學材料和多層薄膜等。測量時(shí)間(jiān)方面，可實現(xiàn)1秒(miǎo)/點的高速測量，配備的軟件即使是初次使用也(yě)能(néng)輕松分(fēn)析光學常數。
雖然薄膜測厚儀在使用中可以起到高精度的測厚作(zuò)用，但(dàn)這(zhè)一(yī)切都需要建立在正确操作(zuò)的條件下(xià)。如(rú)果操作(zuò)方式錯誤，後果很嚴重。不僅不能(néng)保證測量數據的準确性，還會造成測厚儀的損壞，影響車身(shēn)後期的測試性能(néng)。可見，正确使用膜厚儀很重要。
不了(le)解基礎參數，怎麽能(néng)用好(hǎo)(hǎo)薄膜測厚儀？基本參數方面主要包括測量原理(lǐ)、測量範圍、測量誤差、數據存儲、統計值、最小曲率半徑、最小測量面積、最小基材厚度、被測物體(tǐ)材料重量、薄膜測厚儀尺寸、等等這(zhè)些(xiē)數據雖然在産品說(shuō)明書或者設備标識闆上(shàng)都有展示，但(dàn)是做好(hǎo)(hǎo)初步的基礎了(le)解是非常有必要的。如(rú)果事(shì)先不知道，在正式操作(zuò)中看，一(yī)般是趕不上(shàng)的，但(dàn)實際情況會很倉促。以測量原理(lǐ)為(wèi)例，需要針對不同的被測對象确定合适的測量原理(lǐ)，如(rú)磁感應原理(lǐ)或渦流效應原理(lǐ)。如(rú)果一(yī)開始沒有正确選擇測量原理(lǐ)，那麽下(xià)面的操作(zuò)就(jiù)會一(yī)步步出錯。
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